| 專利名稱 |
基于動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整的復(fù)合材料缺陷識(shí)別方法 |
| 申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào) |
CN202010835493.6 |
專利權(quán)人（第一權(quán)利人） |
長(zhǎng)春理工大學(xué) |
| 申請(qǐng)日 |
2020-08-19 |
授權(quán)日 |
2023-04-07 |
| 專利類別 |
授權(quán)發(fā)明 |
戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)分類 |
新一代信息技術(shù) |
| 技術(shù)主題 |
時(shí)域|算法|動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整|復(fù)合材料|相關(guān)系數(shù)|光譜 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
通過光學(xué)手段進(jìn)行材料分析|設(shè)計(jì)優(yōu)化/仿真|復(fù)雜數(shù)學(xué)運(yùn)算 |
| 意向價(jià)格 |
具體面議 |
| 專利概述 |
本發(fā)明公開了一種基于動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整的復(fù)合材料缺陷識(shí)別方法，利用太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)獲得仿真輸入信號(hào)、各層樣品的光學(xué)參數(shù)及樣品的太赫茲時(shí)域光譜信號(hào)；建立初始傳播仿真模型，通過對(duì)比缺陷和正常區(qū)域的仿真波形選取時(shí)域上缺陷特征區(qū)間；選取實(shí)際太赫茲檢測(cè)集合IM中的某處，利用動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整算法獲得規(guī)整后的仿真波形和實(shí)測(cè)波形；利用皮爾森相關(guān)系數(shù)計(jì)算規(guī)整后的仿真波形和實(shí)測(cè)波形的相關(guān)系數(shù)，并以此作為成像的指標(biāo)，該相關(guān)系數(shù)可用于識(shí)別復(fù)合材料的缺陷。 |
| 圖片資料 |
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| 合作方式 |
擬轉(zhuǎn)讓 |
| 聯(lián)系人 |
戚梅宇 |
聯(lián)系電話 |
13074363281 |
